x_met_8000_xmet_hitachi_expert_analyser_pmi_materiaalanalyse_analytical_xrf-01x_met_8000_xmet_hitachi_expert_analyser_pmi_materiaalanalyse_analytical_xrf_rontgen-01x_met_8000_xmet_hitachi_expert_analyser_pmi_materiaalanalyse_analytical_xrf_koffer-01
 
x_met_8000_xmet_hitachi_expert_analyser_pmi_materiaalanalyse_analytical-01-01-01
x_met_8000_xmet_hitachi_expert_analyser_pmi_materiaalanalyse_analytical_xrf-01x_met_8000_xmet_hitachi_expert_analyser_pmi_materiaalanalyse_analytical_xrf_rontgen-01x_met_8000_xmet_hitachi_expert_analyser_pmi_materiaalanalyse_analytical_xrf_koffer-01
 
 

X-MET8000 Expert

Onze handheld XRF analyser, de X-MET8000, biedt de gewenste snelheid en prestatie bij de meest veeleisende applicaties, door het gebruik van een hoge kwaliteit röntgenbuis en een grote silicon-drift detector (SDD).

Dankzij de voortdurende klantfeedback en productontwikkelingen introduceerde we in 2014 de X-MET8000 Expert. Nu introduceren we graag de rest van de serie. Naast de X-MET8000 Expert bieden de nieuwe modellen X-MET8000 Optimum en X-MET8000 Smart betrouwbare, ononderbroken metaal analyses, de hele dag lang in de zwaarste omgevingen. De X-MET8000 XRF analyser is ideaal voor schroot analyse, edelmetalen en juwelen analyse en positieve metaalidentificatie (PMI) voor inspectie en productie applicaties.

De X-MET8000 Expert is de ideale oplossing voor de meest veeleisende applicatie, inclusief het meten van lichte elementen. De X-MET8000 Expert biedt met de empirische kalibraties een zeer hoge nauwkeurigheid, waardoor het veel geavanceerder is dan de X-MET8000 Smart en Optimum.

  • X-MET8000 series XRF analysers bestaat uit 3 modellen om aan alle analyse eisen en budgetten te voldoen
  • Bewezen ”point and shoot” eenvoud
  • Intuïtief, pictogramgestuurde interface: minimale operator training vereist
  • Groot 4.3” kleuren touchscreen voor uitstekende resultaatweergave, zelfs in direct zonlicht. Eenvoudig te bedienen met handschoenen aan
  • Conform IP54 (soortgelijk aan NEMA 3), waardoor de X-MET te gebruiken is in de zwaarste omstandigheden
  • Optioneel venster (Expert en Optimum modellen) om de röntgenbuis en detector te beschermen en kostbare reparaties te vermijden
  • Quick-swap analyse venster: geen gereedschap vereist om gebroken of vieze analyse vensters te vervangen
  • Aanpasbaar resultatenscherm voor snelle besluitvorming. Geef informatie weer die voor u belangrijk is, zoals legeringwaarde, element samenstelling, pass/fail berichten, elementen in uw gekozen volgorde
  • Beschikt over empirische kalibraties voor zeer nauwkeurige metingen van Mg tot U
  • Compact en gebalanceerd design
  • Optionele geintegreerde camera voor accurate meetpositionering
  • Uitgebreide, aanpasbare grade bibliotheek
  • Krachtige data management