Beschrijving
De X-MET EXPERT serie biedt naast geweldige lichte elementanalyse (Mg, Al, Si, P, S, Cl), uiterst lage detectiegrenzen en uitstekende precisie. Analyseer een breed scala aan materialen met één van de krachtige standaardloze fundamentele parameters (FP) -methoden, of gebruik een (optionele) standaard of zelf gebouwde empirische kalibratie, wanneer traceerbaarheid van resultaten en superieure nauwkeurigheid nodig zijn. De X-MET8000 Expert range is daarnaast uitermate geschikt voor Asset Integrety Management en voldoet aan de API RP 578 (American Petroleum Institute).
Een greep uit de toepassingen van de X-MET8000 EXPERT:
- PMI ofwel positieve materiaal identificatie & metaal-identificatie
- QA-QC kwaliteitscontrole
- API Compliance inpscties (American Petroleum Institute, Recommended Practices)
- Spoorelement-analyse in laaggelegeerde stoomleidingen
- Analyse van coatings (µm, mg/cm2) en oxides
- Inkomende goederencontrole
- Sieraad-analyse (goud, zilver en edelmetalen)
- Detectie van zware metalen in consumentengoederen, speelgoed en elektronica
- Opsporen van zware metalen als Pb of Cr(VI) in verf
- Opsporen van kwik (Hg)
- Bepalen van S-gehalte in stookolie
- Opsporen van PVC bekabeling (Cl)
- Hoge temperatuur PMI (~400°C) met Hero venster incl. lichte elementen
- HF Alkylation inspectie
- Flow Accelerated Corrosion (FAC)
- API (RP 578) compliance inspecties
- Re (residual Elements) analyse in laag gelegeerde- en koolstofstalen
- Analyse van grondstoffen
- Bepalen samenstelling van vuurvaste bemetseling en -grondstoffen als Zr en Chamotte
- Archeologie en analyse van kunst
- Detecteren van laag Silicium gehaltes in petrochemische leidingen (API RP 939-C)
- Analyse van biodiesel
- Zwavel (S) en Fosfor (P) analyse van in-service RVS leidingen
En meer.
Specificaties
- Röntgenbuis: 50kV
- Röntgenbuisfilters: 6-positie filterwisselaar
- Detector: SDD met zeer groot oppervlak
- sample temperatuur: 100ºC of 400ºC met HERO ™ hittebestendig venster (optioneel)
- IP54-classificatie
- Beveiliging tegen beschadiging van het detectorvenster: optioneel vensterschild
- Kalibraties: standaardloze + automatische selectie van empirische kalibraties (herleidbaar tot gecertificeerde referentiematerialen) met auto-screening en fingerprinting (inclusief analyse van lichte elementen Mg, Al, Si, P & S).
- Breed pakket aan kalibratiemodellen mogelijk van PMI, Low Si, FAC, Plastic, ROHS, etc.
- Geïntegreerde camera
- Kleine spot collimator (optioneel)
- 6-positie filterwiel voor een geoptimaliseerde analyse van alle elementen van Mg tot U
XRF automatisering
De X-MET8000 serie is ook geschikt voor API geautomatiseerde inline (X-Y-Z) inspectie van o.a. coatinglaagdikte (oxides, fosfaten), maar ook op materiaalsamenstelling (PMI).
MEER INFORMATIE