X-MET8000 Optimum XRF Coating analyser

Product Categories: Coating, Compleet assortiment, Metallische lagen, XRF analysers

Product Summary

De X-MET8000 OPTIMUM Coating Package handheld X-ray fluorescentie (HHXRF) analyser is specifiek geschikt voor het nauwkeurig analyseren van samenstelling en / of laagdiktemetingen van uiteenlopende coatings op diverse substraten. Zowel metallische coatings of oxides op ferro- als non-ferro ondergrond. Daarnaast is de OPTIMUM uitermate geschikt voor snelle identificatie van basislegeringen en het bepalen van de nauwkeurige chemie van een breed scala aan materialen (vaste en poedermetalen, oplossingen, coatings en metallische verflagen, plastics, mineralen enz). De X-MET8000 OPTIMUM is praktisch, robuust en gemakkelijk te gebruiken om resultaten te leveren waarop u kunt vertrouwen. We bieden een reeks configuraties en een intuïtief kalibratie software pakket, geschikt zijn voor verschillende analysebehoeften en toepassingen. De X-MET OPTIMUM Coating Package biedt geweldige lichte elementanalyse (Mg, Al, Si, P, S, Cl), lage detectiegrenzen en uitstekende precisie.

Lees hieronder de verdere specificaties.

Product Description

[vc_row][vc_column][vc_column_text]

Toepassingen zijn onder andere:

• Analyse van uiteenlopende coatings (µm, mg/cm²) en oxides of diverse substraten
• Cr op staal
• Zn op staal
• ZnP, ZnTi of ZnPZr coatings op Fe
• Ni op staal
• Ru en Ir of Titanium of Platina
• Aluminium Thermal Spray (TSA) coatings op bijvoorbeeld staal of RVS
• Sn of Cu
• Sn en/of Pb op Fe (blik)
• Ag op Cu
• Ti en Zr op Al
• En meer, infomeer naar de mogelijkheden!

Of test zonder voorbereiding een breed scala aan materialen met één van de veelzijdige standaardloze fundamentele parameters (FP) -methoden, of gebruik een (optionele) standaard of zelf gebouwde empirische kalibratie, wanneer traceerbaarheid van resultaten en superieure nauwkeurigheid nodig zijn. Denk aan:

• PMI ofwel positieve materiaal identificatie & metaal-identificatie
• QA-QC kwaliteitscontrole
• Inkomende goederencontrole
• Sieraad-analyse (goud, zilver en edelmetalen)
• En meer.

Inline coating analyse oplossingen en XRF automatisering

Geschikt voor geautomatiseerde inline (X-Y-Z) inspectie van o.a. coatinglaagdikte (oxides, fosfaten), maar ook op materiaalsamenstelling (PMI). MEER INFORMATIE ¹

Specificaties

• Röntgenbuis: 50 kV
• Röntgenbuisfilters: 6-positie filterwisselaar
• Detector: SDD met groot oppervlak
• IP54-classificatie
• Beveiliging tegen beschadiging van het detectorvenster: optioneel vensterschild
• Kalibraties: standaardloos (inclusief analyse van lichte elementen Mg, Al, Si, P & S)
• Geïntegreerde camera (optioneel)
• Kleine spot collimator (optioneel)
• 6-positie filterwiel voor een geoptimaliseerde analyse van alle elementen van Mg tot U

[/vc_column_text][/vc_column][/vc_row][vc_row disable_element="yes"][vc_column][vc_single_image image="5931" img_size="full" alignment="center" onclick="img_link_large"][vc_single_image image="5932" img_size="full" alignment="center" onclick="img_link_large"][/vc_column][/vc_row][vc_row][vc_column][vc_row_inner][vc_column_inner][vc_column_text][/vc_column_text][/vc_column_inner][/vc_row_inner][/vc_column][/vc_row]

Product Gallery

1. https://www.delooperanalytical.com/xrf-automatiser ing/