Draagbare XRF Röntgen Fluorescentie Metaalanalysers

Alle Hitachi High Tech X-MET8000 varianten bieden o.a.

• Nauwkeurige chemie in seconden, zelfs voor spoorelementen.
• Automatische compensatie voor het variëren van sample-vormen en -formaten voor een uitstekende nauwkeurigheid bij het analyseren van kleine monsters en oneffen oppervlakken (spaanders, draden of staven, lasnaden, pijpen, bevestigingsmiddelen …).
• Superieure meting van lichtelementen (Mg, Al, Si, P, S) zonder dat er helium moet worden gespoeld of een vacuümpomp noodzakelijk is.
• Snelle opstart: inschakelen en meten in enkele seconden.
• Geoptimaliseerde meetkopontwerp om materialen in bochten en hoeken (bijvoorbeeld lassen) te testen.
• CRM-controlemonster ter bevestiging van stabiliteit op korte en lange termijn.
• Optionele kleine spot collimator (3 mm diameter) om een ​​spot of component (bijvoorbeeld las) te isoleren van het omringende materiaal: onze geoptimaliseerde “gecollimeerde” kalibraties zorgen voor snel en nauwkeurig analyse, maximale output.
• Optionele camera voor nauwkeurige positionering van de analysator op het monster (bijvoorbeeld kleine steekproef, las, etc.). Afbeeldingen kunnen worden opgeslagen, beoordeeld en toegevoegd aan resultatenrapporten.
• Hoge temperatuur sample analyse: meet monsters tot 400⁰C, inclusief lichte elementen, met ons unieke HERO^TM-venster: geen speciale kalibraties nodig, geen prestatieverlies!
• Compact, robuust en robuust ontwerp, gebouwd om de meest veeleisende omgevingen te weerstaan; zoals :IP54-klasse (NEMA3-equivalent) voor superieure bescherming tegen stof en spatwater. Getest op MIL-STD 810G voor vallen, trillen en schokken.
• Quick-swap-venster: geen gereedschap nodig, geen risico om het detectorvenster met een schroevendraaier door te prikken.
• Optioneel meetschild om te voorkomen dat de detector doorboort bij het meten van scherpe, onregelmatig gevormde stukken (bijvoorbeeld spaanders, schroeven).
• Geïntegreerd 4,3 “BlanView® LCD-kleurentouchscreenscherm met uitstekend zicht en leesbaarheid, zelfs in direct zonlicht.
• Geïntegreerde computer voor verbeterde betrouwbaarheid, bescherming tegen weersinvloeden en snellere gegevensverwerking.
• Groot koellichaam voor maximale betrouwbaarheid, zelfs bij hoge temperaturen. Analyzer geschikt en getest voor bedrijfstemperaturen van -10 ° C tot + 50 ° C.
• Uitgerust met rubberen bumpers rond het scherm, de neus van de analyser en het handvat voor extra bescherming tegen schokken en om uitglijden van oneffen oppervlakken (bijvoorbeeld pijpen) te voorkomen.
• Krachtige, flexibele en gebruikersvriendelijke gebruikersinterface
• Totale flexibiliteit in rapportage mogelijkheden: sla maximaal 100.000 resultaten op het interne geheugen van de X-MET, exporteer rapporten op een USB-stick of een pc of sla de X-MET-gegevens automatisch op in de LiveData-cloud (eXtope).
• De grootste materialenbibliotheek op de markt voor nauwkeurige Grade-ID’s (dat wil zeggen door de gebruiker te selecteren legeringsbibliotheken: AISI, DIN, JIS en GB. inbegrepen en uit te breiden naar een database van >320.000 grades)
• Snel en lokaal onderhoud en kalibratie door eigen servicedienst.

Positive Material Identification (PMI) is een verzamelnaam voor de analyse van metaallegeringen (ferro of Non-ferro) om de chemische samenstelling of de materiaallegering te achterhalen. Eén van de meest toegepaste methode voor PMI is röntgenfluorescentie of X-ray fluorescence (ED-XRF). Deze techniek is inmiddels zover ontwikkeld dat ook ‘lichte’ elementen als P, S en zelfs zeer lage concentraties Mg, Si, Al in uiteenlopende legeringen kunnen worden gedetecteerd. Voor de metaalidentificatie en PMI zijn de draagbare XRF analysers van Hitachi High Tech Analytical Science uitermate geschikt en de beste keuze. Met onze handheld XRF analysers heeft u de mogelijkheid om het instrument op elke gewenste locatie te gebruiken. We hebben verschillende XRF modellen om aan uw specifieke analyse- en budgetbehoeften te voldoen.

X-MET wordt standaard geleverd met 1.500 voor geïnstalleerde legeringen: AISI, ASTM, DIN, JIS en GB bibliotheken. Deze bibliotheken zijn zeer gemakkelijk zelf aan te passen en het is eenvoudig om een eigen bibliotheek aan te maken. Verder is rapportage software inclusief en kunnen analyser gemakkelijk worden geëxporteerd via het Extope Connect cloudbased platform of via de smartphone app.

Reserveer vandaag nog uw vrijblijvende demonstratie of vraag ons sales team naar de mogelijkheden via: sales@delooperanalytical.com.